高低温试验的目的

评价高低温条件对装备在存储和工作期间的性能影响

执行标准

1. GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温
2. GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

适用范围

3. 本高温试验的目的仅限于确定元件、设备或其他产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力。不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力。如有此需求，应采用GB/T2423.22。
4. 本低温试验的目的仅限于用来确定原件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。不能用来评价试验样品耐温度变化的能和在温度变化环境下的运行能力。如有此需求，应采用GB/T 2423.22。

高温试验

1. 目的：本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。
2. 试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。
3. 参考的测试标准：GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

低温试验

4. 用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。
5. 试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。
6. 参考的测试标准：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

温度冲击试验

1. 确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。
2. 试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
3. 参考的测试标准：IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等